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机床定位控制中的智能光栅测控系统

  • 简介: 原文 笔者采用主从机控制方式进行机床定位控制。这种方式与单机控制相比有许多优点:采用单片机进行现场检测和控制,体积小、设计方便、运行可靠、具有较强的抗干扰能力;IBM-PC微机通过友好的用户界面显示和处理数据、设置参数,十分方便。这...
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原文

笔者采用主从机控制方式进行机床定位控制。这种方式与单机控制相比有许多优点:采用单片机进行现场检测和控制,体积小、设计方便、运行可靠、具有较强的抗干扰能力;IBM-PC微机通过友好的用户界面显示和处理数据、设置参数,十分方便。这样不仅简化了单片机的软件及硬件设计,而且为系统向遥控、多微机系统及“个人仪器(个人计算机和仪器结合)”[1]发展奠定了基础。
从线位移光栅尺获取的信号是幅值为3~5V、分辨率为20μm,相位角差为90°的两路正弦信号。为了满足控制精度要求,得到分辨率更高的位移信号,须将光栅尺输出信号进行细分。考虑到细分速度及实际测量过程中电源波动、光强、温度等因素对光栅尺输出信号的影响,采用硬件细分[2]。


  目录

1 智能光栅测控系统硬件配置
2 智能光栅测控系统软件设计[3,4]
3 试验、结果与分析


  参考资料

参考文献
[1] 杨欣荣.智能仪器原理与设计.长沙:中南工业大学出版社,1989:259~294
[2] 王东文,刘明远,何钺.智能光栅数显系统.工业仪表与自动化装置,1996(2):35~37
[3] 刘复华.8098单片机及其应用系统设计.北京:清华大学出版社,1992:102~175
[4] 涂时亮,姚志石.单片微机MCS-96/98实用子程序.上海:复旦大学出版社,1991:14~38
[5] 西安交通大学机切教研室.组合机床设计.西安:西安交通大学出版社,1977:71~276

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