江苏大学本科毕业设计论文 负热膨胀材料及电子封装材料的制备与性能研究,共33页,16434字 摘要 新型“热缩冷胀”负热膨胀氧化物材料具有负膨胀系数大、响应温度范围宽等特。在电子学、光学、通信、医学、日常生活等方面具有广泛应用前景。 ZrW2O8是发现的由0.3K至分解温度1050K都具有各向同性的负热膨胀化合物。本文采用、固相反应法、分布烧结法和共沉淀法制备了ZrW2O8粉体,用X衍射法定性分析了所制备粉体的纯度,采用高低温衍射法和Powder X软件计算了所制备材料的负热膨胀系数,用扫描电镜观察了不同工艺制备粉体晶粒大小差异,并分析了产生这种差异的原因。 用射频磁控溅射制备了ZrW2O8薄膜,并对薄膜进行了不同温度的退火处理和膜厚测量。试验结果表明:不同的退火处理温度所得薄膜中ZrW2O8含量不一样,使用原子力显微镜观察了薄膜的生长为岛状生长机制。 关键词: ZrW2O8 粉体 薄膜 共沉淀 磁控溅射 |
江苏大学本科毕业设计论文 负热膨胀材料及电子封装材料的制备与性能研究
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